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致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機 適合 CMOS 影像感應組件量產需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動頭可有效率平衡測試壓力 自動測試壓力學習 IC 殘留檢測功能

致茂Chroma 3260自動化系統功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力

致茂Chroma 3240自動化系統功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力

致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調整測試間距至120mm 具有八個平行測試站點 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤

致茂Chroma 3180八站邏輯測試分類機 具有八個平行測試站點 9Kpcs 產能 彈性的多測點架構 減輕壓測力 自動壓測力學習 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續自動重測功能